| 大学院工学研究院
プロフィール2002年東京工業大学博士課程修了, 博士(工学), 同年千葉大学工学部助手, 2007年同大学院融合科学研究科助教, 2012~13年米国ノースイースタン大学客員研究員, 2014年 同准教授, 2017年 同大学院工学研究院准教授 現職.
委員歴 2019年4月 - 現在 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会 専門委員
2011年4月 - 現在 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会 専門委員
論文 Hisato Kashihara   Josaphat Tetuko Sri Sumantyo   Yuta Izumi   Koichi Ito   Steven Gao   Kazuteru Namba    IEEE Transactions on Antennas and Propagation 71(2) 1943-1948 2023年2月
Keisuke Kozu   Yuya Tanabe   Masato Kitakami   Kazuteru Namba    IEEE Access 10 116982-116986 2022年11月 [査読有り]
Yuta Yamamoto   Kazuteru Namba    IEICE Trans. Inf. & Syst. E103-D(10) 2125-2132 2020年10月 [査読有り]
Kazuteru Namba    IEICE Trans. Inf. & Syst. E103-D(4) 892-895 2020年4月 [査読有り]
Kazuteru Namba   Fabrizio Lombardi    IEEE Trans. Comput. 68(2) 301-306 2019年2月 [査読有り]
MISC 阮 双玉   難波 一輝   伊藤 秀男    電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 108(15) 49-54 2008年4月 VLSIの微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている.近年では,メモリ部やラッチ回路だけでなく,組合せ回路部におけるソフトエラーの発生が無視できなくなってきている.組合せ回路部に対する耐ソフトエラー技術の一手法として,二重化回路に対して,マスタラッチ,スレーブラッチ,Cエレメントからなるフリップフロップ(FF)を用いることにより,組合せ回路部で発生したソフトエラーパルスを訂正する手法が提案されている.しかし,この手法では幅の広いエラーパルスが発生したとき,...
中島 健吾   難波 一輝   伊藤 秀男    電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム 108(14) 43-48 2008年4月 近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策の一つに耐ソフトエラーラッチがある.このラッチには製造時におけるオープン故障やショート故障などの固定故障の一部に通常の製造テストでは検出できない故障がある.このような固定故障が発生しているラッチは,通常入力には正しく動作する.しかし,十分なソフトエラー耐性を持たないことが予想される.本論文では耐ソフトエラーラッチに検出不可能なオープン故障,またはショート故障がある場合につ...
池田 卓史   難波 一輝   伊藤 秀男    電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008(1) 163-163 2008年3月
三浦 健宏   難波 一輝   伊藤 秀男    電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 107(482) 45-50 2008年2月 近年,回路の微細化,高集積化に伴いソフトエラー発生率が増加している.ソフトエラーが記憶素子に発生した場合,新しい値が書き込まれるまで誤った値が保存されるため,システムに障害を引き起こす原因となる.また,製品の開発サイクルの短期化により回路の開発期間の短期化が求められている.そのため,内部の論理を任意に設定することができ,その特徴から回路の開発期間を短期化することができる半導体デバイスであるFPGA(Field Programmable Gate Array)が注目されている.現在主流のFP...
加藤健太郎   難波 一輝   伊藤 秀男    情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 2007(114) 1-6 2007年11月 本論文では,遅延故障テスト容易化フリップフロップ(以下 FF と略記)方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する.提案テスト圧縮法は,遅延故障テスト容易化 FF の構造を利用したテストデータ圧縮(1段階目圧縮)を行い,予めテストデータ量を削減する.その後削減されたデータにさらにテストデータ圧縮(2段階目圧縮)をかけることにより,2段階のテストデータ圧縮を行う.評価実験において,ハフマン符号によるテストデータ圧縮法を2段階目圧縮に用いて提案圧縮法を適用した場合,従来法の場合と比較して,...
講演・口頭発表等 Tomohiro Ishii   Donghyun Kwon   Kazuteru Namba    Japan-Korea Joint Workshop on Complex Communication Sciences 2023年
Jeonghwan Kang   Jaeyeol Park   Minseong Seo   Kazuteru Namba   Donghyun Kwon    Japan-Korea Joint Workshop on Complex Communication Sciences 2023年
Tomohiro Ishii   Kazuteru Namba    IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing 2022年11月
Shogo Takahashi   Kazuteru Namba    IEEE Int'l Conf. Consum. Electron. Taiwan 2022年7月
Noriki Matsuura   Kazuteru Namba    IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2021年11月
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