大学院工学研究院
プロフィール 2002年東京工業大学博士課程修了, 博士(工学), 同年千葉大学工学部助手, 2007年同大学院融合科学研究科助教, 2012~13年米国ノースイースタン大学客員研究員, 2014年 同准教授, 2017年 同大学院工学研究院准教授 現職.
委員歴
2019年4月
-
現在
電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会 専門委員
2011年4月
-
現在
電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会 専門委員
論文
Hisato Kashihara   Josaphat Tetuko Sri Sumantyo   Yuta Izumi   Koichi Ito   Steven Gao   Kazuteru Namba   
IEEE Transactions on Antennas and Propagation 71(2) 1943-1948 2023年2月
Keisuke Kozu   Yuya Tanabe   Masato Kitakami   Kazuteru Namba   
IEEE Access 10 116982-116986 2022年11月 [査読有り]
Yuta Yamamoto   Kazuteru Namba   
IEICE Trans. Inf. & Syst. E103-D(10) 2125-2132 2020年10月 [査読有り]
Kazuteru Namba   
IEICE Trans. Inf. & Syst. E103-D(4) 892-895 2020年4月 [査読有り]
Kazuteru Namba   Fabrizio Lombardi   
IEEE Trans. Comput. 68(2) 301-306 2019年2月 [査読有り]
MISC
SBIAI Takieddine   NAMBA Kazuteru   ITO Hideo   
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 111(324) 49-54 2011年11月
When designing a system on chip (SoC), a test access mechanism (TAM) is required to deliver test data and to collect test responses from cores under test (CUT). To facilitate the network on chip (NoC) testing, test engineers frequently focus on No...
大石 航志   難波 一輝   伊藤 秀男   スマンティヨ ヨサファット テトォコ スリ   
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 111(323) 37-41 2011年11月
我々のプロジェクトでは小型衛星において円偏波合成開口レーダ(CP-SAR)の運用を目指している.現在SAR画像処理は地上で行われているが,画像処理前のSAR画像は容量が大きいので,衛星や航空機等の飛行プラットフォーム上では記憶容量や通信時間の面で不利である.提案システムでは, SAR画像処理を飛行プラットフォーム上で行う.そのため,SAR画像の容量削減等の様々な効果を期待できる.この論文では,小型衛星運用前の準備実験である無人航空機(UAV)上で用いる予定のCP-SAR画像処理システムにつ...
SBIAI Takieddine   NAMBA Kazuteru   ITO Hideo   
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 111(325) 49-54 2011年11月
When designing a system on chip (SoC), a test access mechanism (TAM) is required to deliver test data and to collect test responses from cores under test (CUT). To facilitate the network on chip (NoC) testing, test engineers frequently focus on No...
赤川 慎人   難波 一輝   伊藤 秀男   
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 111(325) 121-126 2011年11月
テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある.このスキャン設計の1つとして千葉大スキャンが提案された.千葉大スキャンはスタンダードスキャンと同じくらいの面積オーバヘッドで実装でき,100%のロバストまたはノンロバストパス遅延故障検出率を実現した手法である.しかし,特殊なテスト手順を必要とするため,テストパターンが増加する問題点がある.さらに,その特殊なテスト手順のために,既存のテストデータ圧縮手法の圧縮率もスタンダードスキャン等の場合に比べ低...
Takieddine Sbiai   Kazuteru Namba   Hideo Ito   
研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 2011(9) 1-6 2011年11月
When designing a system on chip (SoC), a test access mechanism (TAM) is required to deliver test data and to collect test responses from cores under test (CUT). To facilitate the network on chip (NoC) testing, test engineers frequently focus on No...
講演・口頭発表等
Yuta Yamamoto   Kazuteru Namba   
IEEE Int. Symp. Defect and Fault Tolerance VLSI and Nanotechnol. Syst. 2018年
Josaphat Tetuko   Sri Sumantyo   Nobuyoshi Imura   Shunsuke Onishi   Tetsuo Yasaka   Robertus Heru Triharjanto   Koichi Ito   Steven Gao   Kazuteru Namba   Katsumi Hattori   Fumio Yamazaki   Chiharu Hongo   Akira Kato   Daniele Perissin   
IEEE Int'l Geosci. Remote Sens. Symp. 2017年
Wei Wei   Kazuteru Namba   Fabrizio Lombardi   
ACM Int'l Conf. Great Lakes Symp. VLSI 2016年
Hiroki Ueno   Kazuteru Namba   
IEEE Int. Symp. Defect and Fault Tolerance VLSI and Nanotechnol. Syst. 2016年
Fabrizio Lombardi   Wei Wei   Kazuteru Namba   
ACM Int'l Conf. Great Lakes Symp. VLSI 2015年